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전자신문: 반도체 불량칩 탐지 기술로 생산성 높인다

2018.06.25 09:50

우리 학과 김희영 교수팀이 반도체 기판 속 불량 칩 패턴을 효과적으로 탐지하고, 군집화하는 기술을 개발하여 YTN science에 소개되었습니다.

 

기사 전문:  http://science.ytn.co.kr/program/program_view.php?s_mcd=0082&s_hcd=&key=201806201131468244

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